大型高低溫試驗(yàn)箱適用于電工的特性、電子交流、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存共同、運(yùn)輸推進一步、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類(lèi)電子簡單化、電工、電器明確了方向、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒系統性、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備單產提升；特別適用于光纖傳遞、LED、晶體勞動精神、電感開展攻關合作、PCB、電池預下達、電腦的有效手段、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫方案、循環(huán)試驗(yàn)關鍵技術。該設(shè)備主要針對(duì)LED行業(yè)了解情況，對(duì)路燈、日光燈技術研究、LED顯示器等產(chǎn)品進(jìn)行高溫重要的、低溫、濕度的測(cè)試姿勢，模擬產(chǎn)品及材質(zhì)經(jīng)過(guò)溫度問題分析、濕度交替變化后是否有故障、質(zhì)變交流研討、無(wú)法正常工作的情況更加完善，可以滿(mǎn)足不同的高低溫要求。

大型高低溫試驗(yàn)箱的工作室容積至少應(yīng)是被測(cè)試產(chǎn)品外廓體積的3~5倍相對較高，理由有以下幾點(diǎn)：

◆被測(cè)試產(chǎn)品置入箱體后擠占了流暢的通道資源配置，通道變窄將導(dǎo)致氣流流速的增加，加速氣流與被測(cè)試產(chǎn)品之間的熱交換相關。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符大力發展，因?yàn)樵谟嘘P(guān)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)涉及溫度環(huán)境試驗(yàn)都規(guī)定試驗(yàn)箱內(nèi)試驗(yàn)樣件周?chē)目諝饬魉俨粦?yīng)超過(guò)1.7m/s，以防止試驗(yàn)樣件和周?chē)鷼夥债a(chǎn)生不符合實(shí)際的熱傳導(dǎo)生產效率，在空載時(shí)試驗(yàn)箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6~0.8m/s產能提升，不超過(guò)1m/s，滿(mǎn)足以上要求所規(guī)定的空間及面積比時(shí)節點，流場(chǎng)的風(fēng)速可能增大（50~100）%通過活化，平均高風(fēng)速為（1~1.7）m/s，滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求的特點。如果在試驗(yàn)中不加限制地加大被測(cè)試產(chǎn)品的體積或迎風(fēng)斷面積健康發展，則實(shí)際試驗(yàn)時(shí)氣流風(fēng)速將增大到超出試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的風(fēng)速，其試驗(yàn)結(jié)果的有效性將受到懷疑大數據。

◆大型高低溫試驗(yàn)箱的工作室內(nèi)環(huán)境參數(shù)的精度指標(biāo)都是在空載狀態(tài)下檢測(cè)的結(jié)果長效機製，一旦置入被測(cè)試產(chǎn)品后，對(duì)試驗(yàn)箱工作室內(nèi)環(huán)境參數(shù)的均勻性將產(chǎn)生影響數字技術，被測(cè)試產(chǎn)品占有的空間越大奮戰不懈，這種影響也就越嚴(yán)重。實(shí)測(cè)試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明措施，流場(chǎng)中迎風(fēng)面與背風(fēng)面的溫差可達(dá)到3~8℃大大縮短，嚴(yán)重時(shí)可大到10℃以上。因此緊密相關，必須盡量滿(mǎn)足以上所概述幾項(xiàng)要求更默契了，以保證被測(cè)試產(chǎn)品周?chē)h(huán)境參數(shù)的均勻性。